申请/专利权人：河北工业大学

申请日：2023-12-11

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117740635A

主分类号：G01N15/04

分类号：G01N15/04;G01N21/64

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明涉及颗粒沉降速度测试技术领域，尤其涉及一种环境细颗粒物暴露荧光模拟示踪的沉降速度测试方法，步骤S1，准备各项检测装置并搭建封闭检测环境；步骤S2，进行主动吸入荧光模拟采样和被动沉降荧光模拟采样；步骤S3，获取主动吸入图像和被动沉降图像以分析主动吸入荧光标记颗粒数量和被动沉降荧光标记颗粒数量；步骤S4，根据检测到的被动沉降荧光标记颗粒数量与主动吸入荧光标记颗粒数量计算荧光标记颗粒物的沉降速度；步骤S5，计算荧光标记颗粒实际消耗量；步骤S6，确定荧光检测结果的准确性，并调整分析过程，本发明方法通过测量模拟人主动吸入和被动沉降的颗粒物，能够直接有效地计算出细颗粒物的沉降速度。

主权项：1.一种环境细颗粒物暴露荧光模拟示踪的沉降速度测试方法，其特征在于，包括：步骤S1，准备模拟呼吸装置、被动沉降检测装置以及发尘器，并安置在测试环境中，发尘器内部预设有荧光标记颗粒，根据待测试环境搭建封闭检测环境；步骤S2，设定采样周期以及模拟呼吸装置的呼吸频率和单次吸气量，向所述封闭检测环境中使用所述发尘器采用设定的加尘流量通入所述荧光标记颗粒，采用模拟呼吸装置通过主动吸入环境颗粒物模拟主动呼吸进行主动吸入荧光模拟采样，采用被动沉降检测装置模拟荧光标记颗粒自由沉降进行被动沉降荧光模拟采样；步骤S3，设定采样周期，周期性采用荧光显微镜获取模拟呼吸装置的标记颗粒物图像记为主动吸入图像，获取被动沉降检测装置上的荧光标记颗粒物图像记为被动沉降图像，并分别分析主动吸入图像和被动沉降图像得到模拟呼吸装置的主动吸入荧光标记颗粒数量和被动沉降检测表面的被动沉降荧光标记颗粒数量；步骤S4，根据分析得到的所述被动沉降荧光标记颗粒数量与所述主动吸入荧光标记颗粒数量进行计算，获得荧光标记颗粒物的沉降速度；步骤S5，在所述主动吸入图像和所述被动沉降图像记录完成后，封闭模拟呼吸装置的气体进口以及被动沉降检测装置与封闭检测环境接触的检测部位，再将所述模拟检测环境中含有荧光标记颗粒的空气排出，检测剩余荧光标记颗粒量，并根据所述步骤S1准备的荧光标记颗粒和剩余荧光标记颗粒量计算荧光标记颗粒实际消耗量；步骤S6，根据所述步骤S2中分析得到的所述主动吸入荧光标记颗粒数量与所述步骤S3分析得到的所述被动沉降荧光标记颗粒数量，与荧光标记颗粒实际消耗量进行对比，校验荧光检测结果的准确性；其中，所述荧光标记颗粒为带有荧光标记的灰尘颗粒。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 河北工业大学 环境细颗粒物暴露荧光模拟示踪的沉降速度测试方法

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