申请/专利权人:炬芯科技股份有限公司
申请日:2022-09-15
公开(公告)日:2024-03-22
公开(公告)号:CN117743075A
主分类号:G06F11/30
分类号:G06F11/30;G06F11/26;G06F11/22;G01R31/28
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开
摘要:本公开涉及一种芯片参数有效性的监控方法、装置、介质及电子设备。芯片参数有效性的监控方法,包括:确定当前计数周期内至少包括的第一连续数量个和第二连续数量个目标芯片的参数的统计学指标值,得到第一统计学指标值和第二统计学指标值,其中,统计学指标值是根据测试系统输出所述目标芯片的实际参数值得到;根据所述第一统计学指标值和所述第二统计学指标值,监控所述测试系统输出的实际参数值的有效性。
主权项:1.一种芯片参数有效性的监控方法,其特征在于,包括:确定当前计数周期内至少包括的第一连续数量个和第二连续数量个目标芯片的参数的统计学指标值,得到第一统计学指标值和第二统计学指标值,其中,统计学指标值是根据测试系统输出所述目标芯片的实际参数值得到;根据所述第一统计学指标值和所述第二统计学指标值,监控所述测试系统输出的实际参数值的有效性。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 炬芯科技股份有限公司 芯片参数有效性的监控方法、装置、介质及电子设备
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