申请/专利权人：三星显示有限公司

申请日：2023-09-20

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117746755A

主分类号：G09G3/00

分类号：G09G3/00;G01R31/26;G01R19/165

优先权：["20220920 KR 10-2022-0118572"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.03.22#公开

摘要：本发明提供一种像素的检查方法。像素的检查方法可以包括如下步骤：在第一电压区间中以第一电压间隔向构成测试图案的晶体管的栅极端子施加第一栅极电压来测量第一漏极电流；基于第一漏极电流生成第一栅极电压‑漏极电流曲线图；在与第一电压区间不同的第二电压区间中以与第一电压间隔不同的第二电压间隔向晶体管的栅极端子施加小于第一栅极电压的第二栅极电压来测量第二漏极电流；基于第二漏极电流生成第二栅极电压‑漏极电流曲线图；以及基于第一栅极电压‑漏极电流曲线图及第二栅极电压‑漏极电流曲线图来判断晶体管的不良。

主权项：1.一种像素的检查方法，包括如下步骤：在第一电压区间中以第一电压间隔向构成测试图案的晶体管的栅极端子施加第一栅极电压来测量第一漏极电流；基于所述第一漏极电流生成第一栅极电压-漏极电流曲线图；在与所述第一电压区间不同的第二电压区间中以与所述第一电压间隔不同的第二电压间隔向所述晶体管的所述栅极端子施加小于所述第一栅极电压的第二栅极电压来测量第二漏极电流；基于所述第二漏极电流生成第二栅极电压-漏极电流曲线图；以及基于所述第一栅极电压-漏极电流曲线图及所述第二栅极电压-漏极电流曲线图来判断所述晶体管的不良。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 三星显示有限公司 像素的检查方法

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