申请/专利权人：上海壁仞科技股份有限公司

申请日：2023-12-13

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117744550A

主分类号：G06F30/33

分类号：G06F30/33;G06F30/337

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明提供一种芯片信息一致性检查方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片技术领域，该方法包括：获取多种芯片数据文件；针对每种芯片数据文件，确定芯片数据文件中目标信息的目标书写格式；目标书写格式是对历史的芯片数据文件进行挖掘得到的；按照目标书写格式，从芯片数据文件中提取目标信息；将各目标信息进行比对，得到芯片信息一致性检查结果。本发明可以对芯片信息一致性进行准确检查，可以减少不同芯片数据文件对应的芯片信息不一致带来的隐患，便于提高部门之间协调工作时的效率。

主权项：1.一种芯片信息一致性检查方法，其特征在于，包括：获取多种芯片数据文件；针对每种芯片数据文件，确定所述芯片数据文件中目标信息的目标书写格式；所述目标书写格式是对历史的芯片数据文件进行挖掘得到的；按照所述目标书写格式，从所述芯片数据文件中提取所述目标信息；将各所述目标信息进行比对，得到芯片信息一致性检查结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海壁仞科技股份有限公司 芯片信息一致性检查方法、装置、电子设备及存储介质

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