申请/专利权人：苏州华太电子技术股份有限公司

申请日：2023-12-20

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117741197A

主分类号：G01R1/04

分类号：G01R1/04;G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明公开了一种抑制三次谐波的芯片测试夹具，包括三次谐波抑制单元、第一传输线、第二传输线、射频输入端口、射频输出端口以及待测芯片；射频输入端口与第一传输线的第一端相连，第一传输线的第二端与待测芯片的输入端相连，第二传输线的第一端与待测芯片的输出端相连，第二传输线的第二端与射频输出端口相连，三次谐波抑制单元与待测芯片的输入端或者待测芯片的输出端相连。本发明通过在待测芯片的输入端或者输出端设置三次谐波抑制单元，将待测芯片的三次谐波阻抗变换为短路阻抗，降低三次谐波的影响，使得在芯片负载牵引测试过程中可以更全面的评估芯片的射频性能；在夹具上设置馈电单元为待测芯片供电，减少测试系统的复杂度和测试成本。

主权项：1.一种抑制三次谐波的芯片测试夹具，其特征在于，所述夹具包括：三次谐波抑制单元、第一传输线、第二传输线、射频输入端口、射频输出端口以及待测芯片；所述射频输入端口与第一传输线的第一端相连，所述第一传输线的第二端与待测芯片的输入端相连，所述第二传输线的第一端与待测芯片的输出端相连，所述第二传输线的第二端与射频输出端口相连，所述三次谐波抑制单元与待测芯片的输入端或者待测芯片的输出端相连。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州华太电子技术股份有限公司 一种抑制三次谐波的芯片测试夹具

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