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【发明公布】一种光学记录和电学读取数据的结构及方法_中国华录集团有限公司_202311771943.X 

申请/专利权人:中国华录集团有限公司

申请日:2023-12-21

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN117746923A

主分类号:G11B7/2403

分类号:G11B7/2403;G11B7/126

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要:本发明公开了一种光学记录和电学读取数据的结构及方法,包括基材层、信息层和保护层;所述基材层上设有所述信息层,所述信息层上设有所述保护层;其中所述信息层包括检测区域、记录区域和供电区域,所述检测区域、记录区域和供电区域依次沿远离所述基材层的方向设置;所述记录区域用于在激光的照射下记录数据;所述检测区域用于读取所述记录区域记录的数据;所述供电区域用于在所述检测区域读取数据过程中进行供电。本发明通过介质材料的光致化学变化或物理变化原理进行数据记录,有利于数据的长期保存,且记录速度更快,耗能较低,并利用介质材料在变化前后电气特性不同,从而进行电学读取数据,实现数据的快速并行高速读取。

主权项:1.一种光学记录和电学读取数据的结构,其特征在于,包括基材层1、信息层2和保护层3;所述基材层1上设有所述信息层2,所述信息层2上设有所述保护层3;其中所述信息层2包括检测区域21、记录区域22和供电区域23,所述检测区域21、记录区域22和供电区域23依次沿远离所述基材层1的方向设置;所述记录区域22用于在激光的照射下记录数据;所述检测区域21用于读取所述记录区域22记录的数据;所述供电区域23用于在所述检测区域21读取数据过程中进行供电。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国华录集团有限公司 一种光学记录和电学读取数据的结构及方法

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