申请/专利权人:上海交通大学
申请日:2023-11-29
公开(公告)日:2024-03-22
公开(公告)号:CN117741187A
主分类号:G01R1/02
分类号:G01R1/02;G11C27/04;G01R31/00
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开
摘要:本发明公开了一种DUT阵列可寻址外围测试电路,该测试电路包括地址转换电路,以及与所述地址转换电路连接的开关电路。地址转换电路用以将外部输入的地址转换为漏极地址和栅极地址,开关电路的行输出电控制DUT阵列的漏极,开关电路的列输出电控制DUT阵列的栅极,开关电路与所述DUT阵列的漏极采用开尔文连接。电流测量点SO与源极测量点共用同一个PAD,且单独接地。开关电路的行、列输出通过地址缓冲器接入所述DUT阵列。地址转换电路电控制地址寄存电路。
主权项:1.一种DUT阵列可寻址外围测试电路,其特征在于,该测试电路包括地址转换电路,以及与所述地址转换电路连接的开关电路,所述地址转换电路用以将外部输入的地址转换为漏极地址和栅极地址,所述开关电路的行输出电控制DUT阵列的漏极,所述开关电路的列输出电控制DUT阵列的栅极,所述开关电路与所述DUT阵列的漏极采用开尔文连接。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海交通大学 一种DUT可寻址外围测试电路
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