申请/专利权人：同济大学

申请日：2023-12-08

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117746081A

主分类号：G06V10/762

分类号：G06V10/762;G06V20/64;G06V20/10

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明涉及一种考虑空间延展的边坡露头结构面产状识别方法，方法包括：获取原始数据，建立点云模型，获取稀疏点云，进行插值，然后对局部平面进行聚类，得到聚类结果；筛选第一平面集合和第二平面集合；输出所有类平面对应的最优平面，完成产状识别。与现有技术相比，本发明具有提高结构面产状识别的稳定性等优点。

主权项：1.一种考虑空间延展的边坡露头结构面产状识别方法，其特征在于，方法包括：S1、获取原始数据，所述原始数据为地层露头图像或地层露头点云数据；S2、基于运动恢复结构算法生成原始数据对应的点云模型；S3、采用均匀降采样方法对点云模型进行降采样，获取稀疏点云，计算稀疏点云中每个点的法向进行插值，得到插值后的点云；S4、将插值后的点云中结构面所在位置的点云划分为局部平面构成的集合，记录所有局部平面的中心点位置、平面大小、以及平面方向；S5、对局部平面进行聚类，得到聚类结果；S6、选择聚类结果中的一类平面，获得初始结构面集，初始化循环次数；S7、在初始结构面集中选择符合误差要求的平面，形成第一平面集合；S8、从第一平面集合中随机选取两个平面，计算拟合平面，从第一平面集合中筛选出满足拟合平面误差的平面，形成第二平面集合；S9、判断第二平面集合中平面的数量是否大于最优匹配平面数量，若否则循环次数加1，返回S8，若是，则将最优匹配平面数量设为第二平面集合中平面的数量，将该第二平面集合作为最优平面，将第二平面集合作为新的第一平面集合，循环次数加1，返回S8，当循环次数达到阈值时，输出所有该类平面对应的最优平面，将最优平面的中心点位置以及平面方向转化为工程坐标系表达的坐标，完成该类平面的产状识别，然后执行S10；S10、选择聚类结果中的另外一类平面，重复S6-S10，直至遍历聚类结果中的所有的类，完成所有类平面的产状识别。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 同济大学 一种考虑空间延展的边坡露头结构面产状识别方法

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