申请/专利权人：沃特世科技爱尔兰有限公司

申请日：2022-05-20

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117751423A

主分类号：H01J49/00

分类号：H01J49/00;G01N27/622

优先权：["20210521 US 63/191601"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.03.22#公开

摘要：示例性实施方案涉及质谱数据的校准，并且对于校准碰撞横截面数据尤其有用。这些技术应用辅助而不是自动化校准技术。提供了上下文敏感的用户界面，这些用户界面允许用户查看由校准算法作出的匹配，并且覆写先前的选择以改善用于作出校准调整的模型的拟合。然后可将该校准调整应用于来自装置的过去或未来的数据，以便对这些数据进行归一化并且能够将这些数据与其他数据进行比较。

主权项：1.一种方法，所述方法包括：从质谱MS设备接收样本化合物的分析，所述分析与多个质量峰相关联；接收参考化合物的一组质量峰；将所述样本化合物的所述多个质量峰的子集映射到所述参考化合物的峰的对应子集，所述映射使所述参考化合物的第一峰与所述样本化合物的第一峰匹配；通过执行以下中的至少一者覆写所述映射：使所述参考化合物的所述第一峰与所述样本化合物的第二峰匹配，或者使所述参考化合物的所述第一峰不与所述样本化合物中的任何峰匹配；并且使用所述映射定义校准调整。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 沃特世科技爱尔兰有限公司 用于为质谱设备提供辅助校准的方法、介质和系统

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