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【发明授权】一种光轴检测系统导光装置装校方法_天津津航技术物理研究所_202111369256.6 

申请/专利权人:天津津航技术物理研究所

申请日:2021-11-18

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN114088355B

主分类号:G01M11/02

分类号:G01M11/02

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.22#授权;2022.03.15#实质审查的生效;2022.02.25#公开

摘要:本申请公开了一种光轴检测系统导光装置装校方法。包括以下步骤:将第一平行光管与第二平行光管相对放置;利用第二平行光管的分划板接收第一平行光管发出的平行光线;调整第二平行光管,至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合;将导光装置放置在第一平行光管与第二平行光管之间;利用导光装置反射第一平行光管发出的平行光线至第二平行光管的分划板上;调整导光装置,直至第二平行光管分划板上的像与分划板中心重合;紧固调整后的导光装置。本申请利用第一平行光管与第二平行光管调整导光装置的两反射面,使得导光装置的两反射面具备较高的平行度;实现调整导光装置的两反射面平行度的目的,满足测试需求。

主权项:1.一种光轴检测系统导光装置装校方法,其特征在于,包括以下步骤:将第一平行光管1与第二平行光管2相对放置;利用第二平行光管2的分划板接收第一平行光管1发出的平行光线;调整第二平行光管2,至第二平行光管2分划板上的像与分划板中心重合;将导光装置放置在第一平行光管1与第二平行光管2之间;利用导光装置反射第一平行光管1发出的平行光线至第二平行光管2的分划板上;调整导光装置,直至第二平行光管2分划板上的像与分划板中心重合;其中,所述导光装置具备第一反射面与第二反射面;利用第一反射面接收所述第一平行光管1发出的平行光线,并发出第一反射光线;利用第二反射面接收第一反射光线,并发出第二反射光线,传递至所述第二平行光管2的分划板上调整导光装置的第一反射面,调整导光装置的第一反射面,直至第二平行光管2分划板上的像与分划板中心重合;紧固调整后的导光装置,使得导光装置的两反射面具备较高的平行度;实现调整导光装置的两反射面平行度的目的,满足测试需求。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 天津津航技术物理研究所 一种光轴检测系统导光装置装校方法

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