申请/专利权人：紫光同芯微电子有限公司

申请日：2023-11-14

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117236277B

主分类号：G06F30/398

分类号：G06F30/398

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2024.01.02#实质审查的生效;2023.12.15#公开

摘要：本申请涉及数字IC验证技术领域，公开一种用于检查寄存器的方法，包括：在进行寄存器检查的情况下，创建动态线程并进行寄存器测试；动态线程通过缓冲区获取寄存器测试中进行测试的寄存器的位置，以及所述寄存器的测试结果；动态线程根据寄存器和位置和测试结果，分析寄存器中报错的位置，获得检查结果。在寄存器的检查过程中，只需要创建一个动态线程，寄存器也只需要面向缓冲区记录测试结果，可以减少寄存器对应的C代码与动态线程对应的SV代码进行同步交互所产生的代码，从而减少寄存器在检查过程中的代码量。本申请还公开一种用于检查寄存器的装置和电子设备。

主权项：1.一种用于检查寄存器的方法，其特征在于，包括：在进行寄存器检查的情况下，使用UVMsequence的函数创建动态线程并进行寄存器测试；动态线程通过缓冲区获取寄存器测试中进行测试的寄存器的位置，以及所述寄存器的测试结果；其中，缓冲区设置于存储器缓冲区RAMbuffer，包括用于记录进行测试的寄存器的位置的第一缓冲区，以及用于记录所述寄存器的测试结果的第二缓冲区；动态线程根据寄存器的位置和测试结果，分析寄存器中报错的位置，获得检查结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 紫光同芯微电子有限公司 用于检查寄存器的方法及装置、电子设备

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