申请/专利权人：上海西门子医疗器械有限公司

申请日：2020-03-05

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN113362404B

主分类号：G06T11/00

分类号：G06T11/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2021.09.24#实质审查的生效;2021.09.07#公开

摘要：本发明实施方式公开了一种计算机断层扫描的散射校正方法、装置和存储介质。方法包括：确定单个投影中X射线穿过扫描目标后的衰减值的像素密度及该衰减值的像素面积密度；基于所述像素密度及所述像素面积密度确定该单个投影的二阶校正系数；基于该二阶校正系数，对该单个投影中每个像素的散射校正值做二阶校正；基于所述每个像素的二阶校正后的散射校正值，对该单个投影中每个像素检测到的信号强度值分别执行校正。本发明实施方式可以不再布置防散射栅ASG，并由此节约成本。而且，当扫描目标偏离中心时，本发明实施方式可以实现良好的散射校正。

主权项：1.一种计算机断层扫描的散射校正方法，其特征在于，包括：确定单个投影中X射线穿过扫描目标后的衰减值的像素密度及该衰减值的像素面积密度，衰减值的像素密度与衰减值具有递增关系，且与探测器的像素数具有递减关系，衰减值的像素面积密度与衰减值具有递增关系，且与探测器的像素数的平方具有递减关系；基于所述像素密度及所述像素面积密度确定该单个投影的二阶校正系数宽幅散射与窄幅散射之间的比例因子r及散射强度缩放因子γ；基于该二阶校正系数，对该单个投影中每个像素的散射校正值做二阶校正；基于所述每个像素的二阶校正后的散射校正值，对该单个投影中每个像素检测到的信号强度值分别执行校正。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海西门子医疗器械有限公司 计算机断层扫描的散射校正方法、装置和存储介质

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