申请/专利权人：牛津大学科技创新有限公司

申请日：2020-03-12

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN113728222B

主分类号：G01N21/00

分类号：G01N21/00;G02B21/06

优先权：["20190321 GB 1903891.8"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2022.03.25#实质审查的生效;2021.11.30#公开

摘要：一种散射显微镜检查装置，该散射显微镜检查装置使用显微镜对包括表面的物体进行成像。光源发射照射光，以及光检测器检测从物体弹性散射的光。电位被施加到该表面，在进行成像时，电位影响物体的电化学特性。电位提供了一种对比度机制，该对比度机制改善了成像并且使得能够表征物体和或周围环境。

主权项：1.一种进行散射显微镜检查的方法，所述方法包括用散射显微镜对包括表面的物体进行成像，所述散射显微镜包括光源和光检测器，所述光源被布置为发射照射光，显微镜被布置为用所述照射光照射物体，并且用所述光检测器检测从物体弹性散射的光，所述方法还包括在对物体进行成像的同时向所述表面施加电位，电位影响物体的电化学特性，所选择的物体在所述照射光的波长和施加的电位下不具有等离激元共振频率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 牛津大学科技创新有限公司 散射显微镜检查

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD