申请/专利权人：辽宁大学

申请日：2021-11-03

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN114018986B

主分类号：G01N27/04

分类号：G01N27/04;G01N27/416

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2022.02.25#实质审查的生效;2022.02.08#公开

摘要：本发明公开了一种粉末状半导体材料电导率的测量方法。利用基于栅状电极的电导率测试装置，方法如下：于栅状电极蚀刻槽中，滴加已知标准电导率的标准电解质溶液，通过电化学工作站测定标准电解质溶液的电阻；计算电池常数；于栅状电极蚀刻槽中，添加待检测粉末状半导体材料，用玻璃压片压严，通过电化学工作站测定待检测粉末状半导体材料的电阻；计算待检测粉末状半导体材料的电导率。本发明原理简单，设备均为实验室常见测试仪器和材料，搭建和测试成本低且简单易行，可测半导体种类多，且测试中对材料无损害可回收，数据处理简便，结果准确。本发明为测量半导体材料电导率提供了新的手段，给科研工作带来了很大的便利。

主权项：1.一种粉末状半导体材料电导率的测量方法，其特征在于，利用基于栅状电极的电导率测试装置，包括如下步骤：1于栅状电极蚀刻槽中，滴加已知标准电导率的标准电解质溶液，通过电化学工作站测定标准电解质溶液的电阻；通过公式Ⅰ计算基于栅状电极的电导率测试装置的电池常数，所述标准电解质溶液是浓度为0.01mol·dm-3的KCl溶液；Kcell＝kI标×R标Ⅰ其中，kI标——标准电解质溶液的标准电导率，Ω-1·m-1；R标——标准电解质溶液的电阻，Ω；Kcell——基于栅状电极的电导率测试装置的电池常数；2于栅状电极蚀刻槽中，添加待检测粉末状半导体材料，用玻璃压片压严，通过电化学工作站测定待检测粉末状半导体材料的电阻；通过公式II计算待检测粉末状半导体材料的电导率， 其中，kI待——待检测粉末状半导体材料的电导率，Ω-1·m-1；R待——待检测粉末状半导体材料的电阻，Ω；Kcell——基于栅状电极的电导率测试装置的电池常数；所述基于栅状电极的电导率测试装置，包括电化学工作站1、导线Ⅰ2-1、导线II2-2、基底3、导电面4和玻璃压片5；基底3和导电面4制成一体，导电面4上刻蚀有栅状电极蚀刻槽4-1，导线Ⅰ2-1一端与电化学工作站1的工作电极夹相连，另一端通过银导电胶6与导电面4连接；导线II2-2一端与电化学工作站1的对电极和参比电极夹相连，另一端通过银导电胶6与导电面4连接，玻璃压片5压在导电面4上；导线Ⅰ2-1和导线II2-2分别设置在栅状电极蚀刻槽4-1的两侧；设有环氧树脂胶7，所述环氧树脂胶7将银导电胶6与导线Ⅰ2-1连接端和银导电胶6与导线II2-2连接端密封。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 辽宁大学 一种粉末状半导体材料电导率的测量方法

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