申请/专利权人：北京市辐射中心

申请日：2021-05-07

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN113203757B

主分类号：G01N23/04

分类号：G01N23/04;G01B15/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2021.08.20#实质审查的生效;2021.08.03#公开

摘要：本发明提供一种全光X射线显微成像系统，包括：X射线发生器，还包括分束器，所述分束器用于将X射线发生器发出的X射线束分成独立的锥形X射线光束，并且在其后的焦点处汇聚，该汇聚处为焦斑所在位置；在所述焦斑处放置有样品；所述分束器利用制作多毛细管X光透镜的制作方式制作而成；该分束器的相邻子管采用厚壁玻璃管拉制而成；且所述子管外径大于所述焦斑尺寸。本发明提供的系统所采用的分束器，由于其有足够的厚度，从而能保证其后出射的光束分开，从而是最终形成的投影图像没有重影、系统成像效率高；系统结构简单，成本低，便于推广使用。

主权项：1.一种全光X射线显微成像系统，包括：X射线发生器1，其特征在于，还包括分束器8，所述分束器8用于将X射线发生器1发出的X射线束分成独立的锥形X射线光束、并且在其后的焦点处汇聚，该汇聚处为焦斑所在位置；在所述焦斑处放置有样品5；所述分束器8利用制作多毛细管X光透镜的制作方式制作而成；该分束器8的相邻子管采用厚壁玻璃管拉制而成；且所述子管外径大于所述焦斑尺寸；所述分束器8子管内径1微米、焦斑尺寸为30微米；包括成像探测器6，所述成像探测器6位于分束器8产生的焦斑之后，用于记录分束器8所产生各个光束远场端的光斑形状；包括控制分析终端7，该控制分析终端7与所述成像探测器6连接，用于接收、存储和分析成像探测器6产生的样品图像信息，以进行样品三维图像重建。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京市辐射中心 一种全光X射线显微成像系统

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD