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【发明授权】一种基于相位内插的高精度相位调节与测量系统及方法_华中师范大学_202111265419.6 

申请/专利权人:华中师范大学

申请日:2021-10-28

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN114019857B

主分类号:G05B19/042

分类号:G05B19/042

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.22#授权;2022.02.25#实质审查的生效;2022.02.08#公开

摘要:本发明涉及一种高精度相位调节与测量系统及方法,尤其是涉及一种基于相位内插的高精度相位调节与测量系统及方法。包括采样时钟产生模块:基于赛林斯FPGA内高速收发器的相位调节模块生成采样时钟fs;相位计数器:由生成的采样时钟fs控制的计数器,计数器的值代表相位值;被测通道:用于测量被测时钟的相位;本发明采用赛林斯FPGA内高速收发器中的相位内插模块,匀速高分辨率地调节其输出时钟相位,等效产生晃动小的新时钟。相比于采用片内普通锁相环PLL,该时钟抖动小约5倍。该测量系统的分辨率可接近1皮秒,相位测量精度可小于500飞秒。

主权项:1.一种基于相位内插的高精度相位调节与测量系统,其特征在于,包括:采样时钟产生模块:基于赛林斯FPGA内高速收发器的相位调节模块生成采样时钟fs;相位计数器:由生成的采样时钟fs控制的计数器,计数器的值代表相位值;被测通道:用于测量被测时钟的相位;被测通道包括:延时器:代表实际被测时钟相对于输入参考时钟fin的待测定的相位偏差值;采样器:由采样时钟fs对被测时钟进行采样,采样结果送往信号边沿寻找模块;信号边沿寻找模块:去除噪声导致的采样抖动,获取沿所处的相位值;平均器:进行多次测量后,输出所得相位均值;采样时钟产生模块包括:锁相环:用于产生输入参考时钟fin的倍频时钟N*fin;相位内插模块:用于持续精细移动倍频时钟N*fin的相位,产生具有细微频率差的时钟N*fs;分频器:用于产生N*fs的分频时钟即采样时钟fs。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华中师范大学 一种基于相位内插的高精度相位调节与测量系统及方法

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