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【发明授权】一种物体几何轴线转动角度测量装置和方法_上海米度测量技术有限公司_202310864067.9 

申请/专利权人:上海米度测量技术有限公司

申请日:2023-07-14

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN116878422B

主分类号:G01B11/26

分类号:G01B11/26;G06T7/60

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.22#授权;2023.10.31#实质审查的生效;2023.10.13#公开

摘要:本发明涉及一种物体几何轴线转动角度测量装置和方法,其中,测量装置包括:参考物,与待测物相对放置;第一特征点,位于所述参考物上;第二特征点,位于所述待测物上;第一相机,位于所述参考物上,所述第二特征点在所述第一相机的拍摄范围内;第二相机,位于所述待测物上,所述第一特征点在所述第二相机的拍摄范围内;计算机,与所述第一相机和所述第二相机相连,用于根据所述第一相机和所述第二相机获取的图像计算所述参考物几何轴线和所述待测物几何轴线之间的横向夹角和竖向夹角。本发明能够增大测量的量程和距离。

主权项:1.一种物体几何轴线转动角度测量装置,其特征在于,包括:参考物,与待测物相对放置;第一特征点,位于所述参考物上;第二特征点,位于所述待测物上;第一相机,位于所述参考物上,所述第二特征点在所述第一相机的拍摄范围内;第二相机,位于所述待测物上,所述第一特征点在所述第二相机的拍摄范围内;计算机,与所述第一相机和所述第二相机相连,用于根据所述第一相机和所述第二相机获取的图像计算所述参考物几何轴线和所述待测物几何轴线之间的横向夹角和竖向夹角;所述计算机包括:第一图像分析模块,用于根据所述第一相机获取的图像计算所述第二特征点在所述第一相机轴线的横向夹角α1和竖向夹角β1;第二图像分析模块,用于根据所述第二相机获取的图像计算所述第一特征点在所述第二相机轴线的横向夹角α2和竖向夹角β2;第一角度计算模块,用于根据所述第二特征点在所述第一相机轴线的横向夹角α1、所述第一特征点在所述第二相机轴线的横向夹角α2,所述第一特征点到所述第一相机轴线的横向距离H1、所述第二特征点到所述第二相机轴线的横向距离H2、以及所述第二特征点在所述第一相机的轴向距离D计算所述第一相机轴线与所述第二相机轴线的横向夹角α′;第二角度计算模块,用于根据所述第二特征点在所述第一相机轴线的竖向夹角β1、所述第一特征点在所述第二相机轴线的竖向夹角β2,所述第一特征点到所述第一相机轴线的竖向距离V1、所述第二特征点到所述第二相机轴线的竖向距离V2、以及所述第二特征点在所述第一相机的轴向距离D计算所述第一相机轴线与所述第二相机轴线的竖向夹角β′;第三角度计算模块,用于根据所述横向夹角α′、所述第一相机轴线与所述参考物几何轴线的横向夹角δ1、以及所述第二相机轴线与所述待测物几何轴线的横向夹角δ2计算所述参考物几何轴线和所述待测物几何轴线的横向夹角α;第四角度计算模块,用于根据所述竖向夹角β′、所述第一相机轴线与所述参考物几何轴线的竖向夹角σ1、以及所述第二相机轴线与所述待测物几何轴线的竖向夹角σ2计算所述参考物几何轴线和所述待测物几何轴线的竖向夹角β。

全文数据:

权利要求:

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