申请/专利权人：中国科学院力学研究所

申请日：2023-04-25

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN116481765B

主分类号：G01M10/00

分类号：G01M10/00;G06T7/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2023.08.11#实质审查的生效;2023.07.25#公开

摘要：本发明提供了一种基于背景纹影测量液体自由表面高度的方法及系统，方法包括：在待测透明液体的底部设置随机分布有标记点的背景图像，通过相机记录所述待测透明液体流经所述背景图像时所述背景图像的测量图像和无所述待测透明液体时所述背景图像的参考图像；结合上述测量图像和参考图像，使用PIV‑PTV算法获得所述背景图像的测量图像虚拟位移，经过液体自由表面高度和虚拟位移关系确定所述待测透明液体的液体自由表面高度。本发明还提供了基于上述方法的系统，解决了现有测量方法限制测量分辨率的问题。

主权项：1.一种基于背景纹影测量液体自由表面高度的方法，其特征在于，方法包括：在待测透明液体的底部设置随机分布有标记点的背景图像，通过相机记录所述待测透明液体流经所述背景图像时所述背景图像的测量图像和无所述待测透明液体时所述背景图像的参考图像；结合上述测量图像和参考图像，使用PIV-PTV算法获得所述背景图像的测量图像虚拟位移，经过液体自由表面高度和虚拟位移关系确定所述待测透明液体的液体自由表面高度；其中，所述液体自由表面高度和虚拟位移关系为： 其中u是所述背景图像的参考图像和测量图像的虚拟位移，由所述PIV-PTV算法获得；h是液体自由表面高度，na和nl分别是空气和所述待测透明液体的折射率，α是所述背景图像中随机分布标记点对应的相机视角，▽是梯度算子。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院力学研究所 一种基于背景纹影测量液体自由表面高度的方法及系统

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