申请/专利权人：北京金橙子科技股份有限公司

申请日：2021-12-16

公开（公告）日：2024-03-26

公开（公告）号：CN114260560B

主分类号：B23K26/064

分类号：B23K26/064;B23K26/082;B23K26/70;H04L67/1095

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.26#授权;2022.04.19#实质审查的生效;2022.04.01#公开

摘要：本申请提供了一种基于A3幅面扫描仪的分区域扫描大幅面振镜校正系统，包括通过根据要校正的幅面大小标刻圆阵列文件，设计出17行17列的标刻圆阵列文件，使用要校正的振镜在第一个校正标靶A和校正标靶B上标记标记点；通过二维扫描仪扫描最大的宽度，校正标靶A和校正标靶B是同一个振镜激光加工设备，通过图像识别算法，分别获取标靶A和标靶B的各个点实际坐标；最后通过17X17的实际坐标生成振镜的校正文件完成校正，通过实现了300mm及以上幅面的振镜激光加工设备的快速多点校正，不需要像以前那样人工测量多个点坐标，避免了人工测量的误差和时间浪费，并且全程的数据可以通过服务器进行备份和记录。

主权项：1.一种基于A3幅面扫描仪的分区域扫描大幅面振镜校正系统，其特征在于，包括以下矫正步骤，S1根据要校正的幅面大小标刻圆阵列文件，设计出17行17列的标刻圆阵列文件；S2使用要校正的振镜在第一个校正标靶A和校正标靶B上标记标记点；S3通过二维扫描仪扫描最大的宽度；S4取校正标靶A，通过扫描仪获取校正标靶A的点阵图像；S5取校正标靶B，通过扫描仪获取校正标靶B的点阵图像；S6校正标靶A和校正标靶B是同一个振镜激光加工设备，在同一条件下标刻到两个标靶上的点阵列图像，A和B有共同的一列；S7通过图像识别算法，分别获取标靶A和标靶B的各个点实际坐标；S8最后通过17X17的实际坐标生成振镜的校正文件完成校正，所述S1中根据要校正的幅面大小标刻圆阵列文件，以A3幅面300mmX300mm，设计出17行17列的标刻圆阵列文件，圆直径为5mm,圆心间距为18.75mm，圆振列文件的最大区域为305mm*305mm，所述S2中使用要校正的振镜在第一个校正标靶A上标记出17*17圆阵列左半区域17*9的标记点第一列到第9列；然后在相同的条件下，换另一个空白的校正标靶B，标刻出17*17圆阵列右半区域17*9的标记点第9列到第17列。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京金橙子科技股份有限公司 一种基于A3幅面扫描仪的分区域扫描大幅面振镜校正系统

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