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【发明授权】RRM测量方法及装置、存储介质、UE、基站_展讯半导体(南京)有限公司_202010657995.4 

申请/专利权人:展讯半导体(南京)有限公司

申请日:2020-07-09

公开(公告)日:2024-03-26

公开(公告)号:CN113923732B

主分类号:H04W36/00

分类号:H04W36/00;H04W36/08

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.26#授权;2022.01.28#实质审查的生效;2022.01.11#公开

摘要:一种RRM测量方法及装置、存储介质、UE、基站,该方法包括:若判断需要执行RRM测量,则使用初始的数据传输间隙配置启动RRM测量,且启动计时器;当所述第一计时器的计时时长到达第一预设时长,且在第一预设时长内当前的数据传输间隙的个数小于预设值时,调整使用的数据传输间隙配置;使用调整后的数据传输间隙配置执行RRM测量;其中,当前的数据传输间隙由使用的数据传输间隙配置确定。从而,能够让UE在需要执行RRM测量的时候拥有充足的传输间隙完成测量活动。

主权项:1.一种RRM测量方法,其特征在于,所述方法包括:若判断需要执行RRM测量,则使用初始的数据传输间隙配置启动RRM测量,且启动第一计时器;当所述第一计时器的计时时长到达第一预设时长、且在第一预设时长内当前的数据传输间隙的个数小于预设值时,调整使用的数据传输间隙配置;使用调整后的数据传输间隙配置执行RRM测量;其中,当前的数据传输间隙由使用的数据传输间隙配置确定。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 展讯半导体(南京)有限公司 RRM测量方法及装置、存储介质、UE、基站

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