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【发明公布】模仁偏心数据测量方法、电子设备及计算机可读存储介质_歌尔光学科技有限公司_202311803031.6 

申请/专利权人:歌尔光学科技有限公司

申请日:2023-12-25

公开(公告)日:2024-03-29

公开(公告)号:CN117781947A

主分类号:G01B11/27

分类号:G01B11/27;G01M11/02;G01M11/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要:本申请公开了一种模仁偏心数据测量方法、电子设备及计算机可读存储介质,涉及光学技术领域,所述模仁偏心数据测量方法包括:测量待测模仁的模仁大径,并基于所述模仁大径确定所述待测模仁相对于量测坐标系的第一平移误差和第一旋转误差;测量所述待测模仁的面型轮廓点坐标,得到第一坐标集;基于所述平移误差和所述旋转误差,对于所述第一坐标集进行坐标变换,得到第二坐标集;将所述第二坐标集与所述待测模仁对应的设计面型公式进行拟合,得到模仁偏心数据,所述模仁偏心数据至少包括所述待测模仁相对于所述模仁大径的第二平移误差和第二旋转误差中的一种。本申请实现了模仁偏心的精确量测,为改善模仁加工精度、消除模仁偏心提供了数据基础。

主权项:1.一种模仁偏心数据测量方法,其特征在于,所述模仁偏心数据测量方法包括:测量待测模仁的模仁大径,并基于所述模仁大径确定所述待测模仁相对于量测坐标系的第一平移误差和第一旋转误差;测量所述待测模仁的面型轮廓点坐标,得到第一坐标集;基于所述平移误差和所述旋转误差,对于所述第一坐标集进行坐标变换,得到第二坐标集;将所述第二坐标集与所述待测模仁对应的设计面型公式进行拟合,得到模仁偏心数据,所述模仁偏心数据至少包括所述待测模仁相对于所述模仁大径的第二平移误差和第二旋转误差中的一种。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 歌尔光学科技有限公司 模仁偏心数据测量方法、电子设备及计算机可读存储介质

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