申请/专利权人：电子科技大学

申请日：2023-12-18

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117782531A

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02;G06F17/10

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本发明公开了一种可在光电探测器饱和状态下工作的光腔衰荡同时测量高反高透光学元件反射率和透过率的数据处理方法，其特征在于：先测量初始光腔的衰荡信号，按单指数拟合得到初始光腔的衰荡时间，如果信号幅值超过光电探测器饱和电压，先截取未饱和部分衰荡信号，再单指数拟合得到初始光腔衰荡时间；然后加入待测高反高透光学元件形成稳定测试光腔，分别测量从输出腔镜和待测光学元件输出的衰荡信号，单指数拟合得到对应衰荡时间和信号幅值，如果所测信号幅值超过光电探测器饱和电压，先截取未饱和部分衰荡信号，再单指数拟合得到衰荡时间和信号幅值；利用衰荡时间计算得到高反射光学元件的反射率或高透射光学元件的透过率，利用信号幅值进行比值计算，进而定标得到高反射光学元件的透过率或高透射光学元件的反射率。本发明无需在光路上安装衰减片使探测器测量电压保持在其动态范围之内，减少了衰减片标定与选择环节，消除了由于衰减片插入导致的测量误差，提升了测量精度。

主权项：1.一种可在光电探测器饱和状态下工作的光腔衰荡同时测量高反高透光学元件反射率和透过率的数据处理方法，其特征在于：先测量初始光腔的衰荡信号，按单指数拟合得到初始光腔的衰荡时间τ0，如果信号幅值超过光电探测器饱和电压，先截取未饱和部分的衰荡信号，再按照单指数拟合衰荡时间τ0；然后加入待测高反高透光学元件形成稳定测试光腔，分别测量从输出腔镜和待测光学元件输出的衰荡信号，单指数拟合得到相应衰荡时间τ1、τ2和信号幅值A1、A2，如果某路所测信号幅值超过探测器饱和电压，先截取未饱和部分的衰荡信号，再单指数拟合得到该路衰荡时间τi和其信号幅值Ai；利用衰荡时间计算得到高反射光学元件的反射率或高透射光学元件的透过率，利用信号幅值进行比值计算，进而定标得到高反射光学元件的透过率或高透射光学元件的反射率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 电子科技大学 一种可在光电探测器饱和状态下工作的光腔衰荡同时测量高反/高透光学元件反射率和透过率的数据处理方法

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