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【发明公布】一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法_北京遥测技术研究所_202311537260.8 

申请/专利权人:北京遥测技术研究所

申请日:2023-11-17

公开(公告)日:2024-03-29

公开(公告)号:CN117783664A

主分类号:G01R23/16

分类号:G01R23/16;G01R23/15;G01R29/26;G01R21/00;G01S7/40

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要:本发明提供一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法,获取超宽带低相位噪声频率源内VCO阵列中每个VCO的最差相位噪声频点、最差输出功率频点、最差杂散抑制频点,汇总得到测试频点数据集,并依据测试频点数据集进行超宽带低相位噪声频率源的测试。由于超宽带频率源的输出功率、输出带外杂散等指标均取决于VCO,而同一个超宽带低相位噪声频率源内,仅VCO是窄带VCO的叠加,其余器件不变,所以相位噪声指标最差的频点也是取决于各窄带VCO最差的频点,本发明根据VCO的特性准备测试频点数据集、进行锁相确认,并覆盖相位噪声、功率和输出杂散,相较于传统的机械式测试方法,在保证测量精度的前提下可大大缩减测量频点的数量,节约超宽带频率源的测试时间。

主权项:1.一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法,其特征在于:包括以下步骤:S1、获得超宽带低相位噪声频率源的VCO阵列1中VCO数量n和每个VCO的频点范围;S2、获取每个VCO的最差相位噪声频点;S3、获取每个VCO的最差输出功率频点;S4、获取每个VCO的最差杂散抑制频点;S5、将所有VCO的最差相位噪声频点、最差输出功率频点和最差杂散抑制频点汇总得到所述超宽带低相位噪声频率源的测试频点数据集;S6、将所述超宽带低相位噪声频率源通过加电线与电源连接、通过射频线与频谱仪和参考信号源连接、通过控制线与控制电脑连接,依据所述测试频点数据集进行所述超宽带低相位噪声频率源的测试,确认所述超宽带低相位噪声频率源在每个窄带VCO对应的频点内是否可以锁定并得到所述超宽带低相位噪声频率源的最大相位噪声、最低输出功率和最小杂散抑制后与所述超宽带低相位噪声频率源的设计要求进行比较,判断所测试的所述超宽带低相位噪声频率源是否满足测试要求,一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法完成。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京遥测技术研究所 一种超宽带低相位噪声频率源的快速测试方法

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