申请/专利权人：重庆邮电大学

申请日：2023-12-08

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117792392A

主分类号：H03M1/10

分类号：H03M1/10

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本发明请求保护一种用于宽松测试条件下的ADC动态参数测试方法，该方法可使ADC的动态参数测试在非高精度设备下进行。该方法包括：削波序列识别与重构、数据预处理、ADC参数还原三部分。削波序列识别与重构包括：采集ADC输出削波序列，对序列进行分段，计算每段非相干削波序列的频率，然后基于最小二乘法获取原本ADC输入信号的关键参数以重新构建理想削波信号，得到残差序列。数据预处理部分包括：将首尾不连续的残差序列转变为首尾连续的相干序列，计算每段ADC输出序列的SNR、SINAD、ENOB、THD等性能参数。ADC参数还原部分：通过每段ADC输出序列的差值，估计ADC自身杂散分量，从ADC输出序列的性能参数中还原ADC器件的性能参数。

主权项：1.一种应用于宽松测试条件的ADC动态参数测试方法，其特征在于，包括以下步骤：削波序列识别与重构步骤、数据预处理步骤及ADC参数还原步骤；其中，所述削波序列识别与重构步骤包括：削波序列识别步骤、削波序列重构步骤两部分；所述削波序列识别是指从ADC输出削波序列中识别出ADC输入信号的幅值、频率、相位以及直流偏置；所述削波序列重构步骤是指根据信号参数构建出无任何杂散分量的理想削波序列，以获得包含拟合误差、信号源杂散、ADC自身杂散的残差序列；所述数据预处理步骤包括：通过重构削波信号提取残差，并将非相干的残差序列转变为首尾连续的相干序列，调整SNR、SINAD、THD、ENOB的计算方式，以减少频谱泄露和参数拟合误差的影响；所述ADC参数还原步骤包括：根据各段数据在上述预处理步骤中所得与信号源杂散有关的SNR、SINAD、THD、ENOB参数差值，估计ADC内部随机噪声来计算与信号源杂散无关的ADC性能参数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 重庆邮电大学 一种宽松条件下的ADC动态参数测试方法

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