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【发明公布】一种图像中坏像素递归校正的方法、系统、设备及介质_成都善思微科技有限公司_202410002997.8 

申请/专利权人:成都善思微科技有限公司

申请日:2024-01-02

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117808711A

主分类号:G06T5/77

分类号:G06T5/77;G06T5/94

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本发明涉及一种图像中坏像素递归校正的方法、系统、设备及介质,方法包括:S1,获取待处理图像中的多个坏像素和多个非坏像素;S2,通过各个非坏像素确定每个坏像素对应的第一校正像素;S3,对于每个第一校正像素,通过第一校正像素周围第一预设范围内的像素对第一校正像素进行像素校正,确定第二校正像素:S4,判断每个第二校正像素是否满足预设条件,将不满足预设条件的第二校正像素作为新的第一校正像素,重复执行S3至S4,直到所有第二校正像素满足预设条件为止。解决了传统坏点像素校正时,坏点像素周围可以利用的信息仅仅只有好的像素点,使得校正后的图像中缺失的信息较多,从而使得校正后的图像的准确性较低的问题。

主权项:1.一种图像中坏像素递归校正的方法,其特征在于,包括:S1,获取待处理图像中的多个坏像素和多个非坏像素;S2,通过各个所述非坏像素对每个坏像素进行逐点坏点校正,确定每个所述坏像素对应的第一校正像素;S3,对于每个所述第一校正像素,通过所述第一校正像素周围第一预设范围内的像素对所述第一校正像素进行像素校正,确定第二校正像素:S4,判断每个所述第二校正像素是否满足预设条件,将不满足预设条件的第二校正像素作为新的第一校正像素,重复执行S3至S4,直到所有第二校正像素满足预设条件为止。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 成都善思微科技有限公司 一种图像中坏像素递归校正的方法、系统、设备及介质

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