申请/专利权人：杭州睿影科技有限公司

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117808716A

主分类号：G06T5/80

分类号：G06T5/80;G01V5/226

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本申请提供了安检图像处理方法、装置及电子设备。本实施例通过标准模体的标准模体校正数据获得硬化校正系数，使用硬化校正系数对经由X射线安检设备安检的安检对象进行数据采集后得到的待校正的目标数据进行校正，这能够抑制传输带材质对X射线信号造成的硬化影响，修复非传输带区域数据和传输带区域数据比如低能数据灰度、原子序数等之间的偏差，提高安检对象的成像效果。

主权项：1.一种安检图像处理方法，其特征在于，该方法应用于X射线安检设备，包括：若发现X射线安检设备上被部署的传输带发生传输带硬化事件，则获得传输带边界探测位置和待校正的目标数据；其中，传输带硬化事件用于指示传输带引起X射线信号的硬化；传输带边界探测位置用于区分X射线安检设备中第一类探测单元和第二类探测单元；所述第一类探测单元包括探测到传输带区域的探测单元，所述第二类探测单元包括未探测到传输带区域的探测单元；所述目标数据为第一安检数据中由第二类探测单元探测到的低能数据被进行满载本底校正后的数据，第一安检数据由X射线安检设备上被部署的探测单元在相同的t1个积分时间内对放置在传输带上的安检对象进行数据采集得到；获得硬化校正系数；硬化校正系数是基于标准模体校正数据得到，其中，标准模体校正数据通过对第二安检数据进行满载本底校正得到，第二安检数据由X射线安检设备上被部署的探测单元在相同的t0个积分时间内对放置在传输带上的标准模体进行数据采集得到；通过所述硬化校正系数对所述目标数据进行校正，得到目标校正数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州睿影科技有限公司 安检图像处理方法、装置及电子设备

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