申请/专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司

申请日：2024-02-29

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117809540A

主分类号：G09G3/00

分类号：G09G3/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本申请属于面板检测领域，具体公开了一种显示面板残影检测方法、装置及设备，方法包括：确定显示面板显示预设棋盘格画面预设时间后恢复显示预设纯色画面时多个预设位置处的第一灰度值；其中，预设棋盘格画面包括呈阵列排列的多个纯色矩形格子，相邻纯色矩形格子的灰阶值不同；根据相邻纯色矩形格子的相邻边缘位置处的第一灰度值的差异信息对所述预设棋盘格画面在显示预设纯色画面的显示面板上的残影进行检测。本申请通过显示面板点屏棋盘格画面，之后恢复到纯色画面，围绕每个棋盘格四周边缘对应区域的纯色画面中的灰度值来计算每个时刻屏体的残影值，可以准确计算反映出屏体每个局部区域的残影情况。

主权项：1.一种显示面板残影检测方法，其特征在于，包括：确定显示面板显示预设棋盘格画面预设时间后恢复显示预设纯色画面时多个预设位置处的第一灰度值；其中，所述预设棋盘格画面包括呈阵列排列的多个纯色矩形格子，相邻纯色矩形格子的灰阶值不同；所述预设位置包括：所述棋盘格画面中各个纯色矩形格子的多个边缘位置；根据相邻纯色矩形格子的相邻边缘位置处的所述第一灰度值的差异信息对所述预设棋盘格画面在显示预设纯色画面的显示面板上的残影进行检测。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 一种显示面板残影检测方法、装置及设备

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