申请/专利权人：湖北合聚高分子材料有限公司

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805496A

主分类号：G01R27/26

分类号：G01R27/26

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明公开了一种提高样品材料介电常数测量精度的装置及方法，所述提高样品材料介电常数测量精度的装置包括压控晶振荡器、调制综合器、稳幅模块、谐振腔模块、微波倍频模块以及处理器；其中，所述压控晶振荡器用于输出预设频率的第一信号，并将所述第一信号分别输送至所述调制综合器、微波倍频模块、以及处理器，以作为其外部参考信号；调制综合器用于接收所述第一信号并将所述第一信号作为外源，并根据所述处理器的控制指令产生FSK信号，所述FSK信号的中心频率为x.****MHz，其中x为小于10的奇数；所述稳幅模块用于接收所述调制综合器输出的FSK信号，并进行幅度检测，使输出稳定的幅值频率信号至所述微波倍频模块。

主权项：1.一种提高样品材料介电常数测量精度的装置，其特征在于，包括压控晶振荡器、调制综合器、稳幅模块、谐振腔模块、微波倍频模块以及处理器；其中，所述压控晶振荡器用于输出预设频率的第一信号，并将所述第一信号分别输送至所述调制综合器、微波倍频模块、以及处理器，以作为其外部参考信号；调制综合器用于接收所述第一信号并将所述第一信号作为外源，并根据所述处理器的控制指令产生FSK信号，所述FSK信号的中心频率为x.****MHz，其中x为小于10的奇数；所述稳幅模块用于接收所述调制综合器输出的FSK信号，并进行幅度检测，使输出稳定的幅值频率信号至所述微波倍频模块；所述谐振腔模块用于放置待测样品，并发送检波信号至所述处理器；所述处理器用于产生三路同频的低频信号，其中一路为调制信号并输送至所述调制综合器，另两路为同步鉴相参考信号；所述处理器还用于在同步鉴相参考信号的作用下，对接收到的所述谐振腔模块发送的检波信号进行同步鉴相并获得纠偏信号，并将所述纠偏信号发送至所述压控晶振荡器，以使压控晶振荡器输出的第一信号的频率发生变化，所述低频信号的频率为70Hz和100Hz之间的奇数；所述微波倍频模块接收所述稳幅模块发送的幅值频率信号，使输出的微波共振信号频率发生变化，并将所述微波共振信号输送至所述谐振腔模块。

全文数据：

权利要求：

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