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【发明公布】一种光芯片端面缺陷检测的双端面同步自动对焦方法_珠海市申科谱工业科技有限公司_202410223553.7 

申请/专利权人:珠海市申科谱工业科技有限公司

申请日:2024-02-29

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117805138A

主分类号:G01N21/95

分类号:G01N21/95;G06T7/00;G06T7/13

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本发明旨在提供一种能兼容多模式对焦,简化对焦检测停止流程的光芯片端面缺陷检测的双端面同步自动对焦方法。本发明背光设备集成设置在前置面相机组和后置面相机组上,兼备有背光模式和无背光模式拍照定位功能,有无背光模式进行切换时,只需要通过自动对焦配置就可以实现模式切换,以适应多光源复杂环境的需求;结构上前端面相机组和后端面相机组对称设置在芯片的两侧,实现双面自动对焦技术,可以完成双面同时自动对焦,能够将两次串行变为一次多工位并行,从而大量提升自动对焦的效率。本发明应用于光芯片双端面同步自动对焦方法的技术领域。

主权项:1.一种光芯片端面缺陷检测的双端面同步自动对焦方法,其特征在于:所述光芯片端面缺陷检测的双端面同步自动对焦方法包括如下步骤:S1、加载配置文件和旋转对焦模式,选择背光模式跳转到步骤S2,选择无背光模式跳转到步骤S5;S2、开启前后端面光源,相应配置相机各项数值,前后端相机沿Y轴运动到配置文件第一次对焦位置拍照,计算图像清晰值DF并与配置文件的阈值DB对比;S3、若第一次对焦得到图像清晰值DF与配置文件的阈值DB差值超过10,则触发第二次对焦跳转至S4,若阈值差值小于等于10,输出对焦坐标和对焦图片,结束对焦;S4、再次回到第一次对焦位置,配合对焦清晰值梯度纠正处理,等间距步长移动拍照并计算清晰值,结束对焦;S5、无背光对焦模式,前后端面相机移动到第一次对焦位置,前后端面光源交替开启,前后端面相机对应交替拍照,计算前后端面相机的图像清晰值DF;S6、计算得到图像清晰值DF合格则对焦结束,输出对焦坐标和对焦图片,若图像清晰值DF不合格则再次对焦跳转至步骤S7,进入二次对焦;S7、二次对焦流程前后端面相机移动到配置预设的对焦位置,前端面相机和后端面相机分别根据对焦清晰值梯度纠正处理拍照,直至获得对焦坐标和对焦图片,结束对焦;在步骤S4和S7中的对焦清晰值梯度纠正处理包括如下步骤:S7.1、前后端面相机沿Y轴方向移动到拍照位置;S7.2、等步距移动并拍照两次,采集两组图片的图像清晰值DF并结合清晰值拍照计算方法分别计算清晰值;S7.3、通过差分计算前后两组图像清晰值DF的梯度值,判断梯度是否连续两次下降,若梯度下降则输出对焦坐标,若梯度不变或两次梯度不同,则返回S7.1再次检测;在步骤S7.2中清晰值拍照计算方法包括下面步骤:S7.2.1、使用双重梯度算法检测对焦图片边缘获取边缘掩模图,计算边缘掩模图中最大和最小灰值,得到二值图片;S7.2.2、将边缘掩模图和二值图片相乘,得到结果图一;S7.2.3、将步骤S7.2.2中相乘得到的结果图一进行平方计算,得到结果图二;S7.2.4、对步骤S7.2.3中获得的结果图二进行像素均值和方差计算。

全文数据:

权利要求:

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