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【发明授权】基于数据分析的光模块测试调试系统_尚宁光电无锡有限公司_202310909595.1 

申请/专利权人:尚宁光电无锡有限公司

申请日:2023-07-24

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN116961741B

主分类号:H04B10/073

分类号:H04B10/073

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.02#授权;2023.11.14#实质审查的生效;2023.10.27#公开

摘要:本发明公开了基于数据分析的光模块测试调试系统,属于光模块领域,用于解决当下光模块的测试办法未有效利用历史测试数据,无法对光模块测试办法进行调试的问题,包括测试匹配模块、测试划分模块、测试调试模块以及智能测试模块,所述测试匹配模块用于对待测光模块的产品型号进行匹配,所述测试划分模块用于对待测光模块的测试情况进行划分,得到待测光模块的测试监测等级,所述测试调试模块用于对待测光模块的测试标准和测试参数进行设定,所述智能测试模块用于对待测光模块进行智能测试,生成产品合格信号或产品异常信号,本发明对光模块的历史测试数据进行分析,基于历史测试数据的分析结果实现对光模块测试办法的智能化调试。

主权项:1.基于数据分析的光模块测试调试系统,包括测试设备以及测试设备内部设置的处理器,所述处理器连接有数据采集模块、显示模块以及服务器,其特征在于,所述服务器连接有用户终端、存储模块、测试匹配模块、测试划分模块、测试调试模块以及智能测试模块,所述用户终端用于输入待测光模块的产品型号经服务器发送至测试匹配模块;所述存储模块用于存储不同产品型号的光模块的历史测试数据和标准性能数据,历史测试数据为光模块的测试次数以及每次测试的测试量、测试合格率,标准性能数据为光模块的平均光功率区间、偏置电流值区间、消光比区间、饱和光功率区间和灵敏度区间;所述测试匹配模块用于对待测光模块的产品型号进行匹配,得到待测光模块的目标产品型号发送至存储模块,存储模块依据目标产品型号将对应待测光模块的历史测试数据发送至测试划分模块,还依据目标产品型号将对应待测光模块的标准性能数据发送至服务器,所述服务器将标准性能数据发送至智能测试模块;所述测试划分模块用于对待测光模块的测试情况进行划分,得到待测光模块的测试监测等级经服务器发送至测试调试模块;测试调试模块依据测试监测等级用于对待测光模块的测试标准和测试参数进行设定,设定待测光模块的测试标准和测试参数反馈至服务器,所述服务器将待测光模块的测试参数发送至用户终端,用户终端依据测试参数将待测光模块进行测试,服务器将待测光模块的测试标准发送至智能测试模块;在待测光模块实际进行测试时,所述数据采集模块用于采集待测光模块测试时的实时测试数据并经处理器和服务器发送至智能测试模块,实时测试数据为待测光模块的平均光功率、偏置电流值、消光比、饱和光功率和灵敏度;所述智能测试模块用于对待测光模块进行智能测试,生成产品合格信号或产品异常信号;其中,所述测试划分模块的划分过程具体如下:获取待测光模块的测试次数;而后获取待测光模块每次测试的测试量和测试合格率,每次测试的测试量相加求和得到待测光模块测试时的平均测试量;同理,得到待测光模块测试时的平均测试合格率;计算待测光模块的测试监测值;测试监测值比对测试监测阈值,判定待测光模块的测试监测等级为第三测试监测等级或第二测试监测等级或第一测试监测等级;第一测试监测等级的级别高于第二测试监测等级的级别,第二测试监测等级的级别高于第三测试监测等级的级别;其中,所述测试调试模块的工作过程具体如下:若为第一测试监测等级,则待测光模块采用第一测试标准和第一测试参数;若为第二测试监测等级,则待测光模块采用第二测试标准和第二测试参数;若为第三测试监测等级,则待测光模块采用第三测试标准和第三测试参数;其中,所述智能测试模块的智能测试过程具体如下:获取待测光模块测试时的平均光功率、偏置电流值、消光比、饱和光功率和灵敏度;而后获取待测光模块的标准测试数据,得到待测光模块的平均光功率区间、偏置电流值区间、消光比区间、饱和光功率区间和灵敏度区间;若平均光功率处于平均光功率区间、偏置电流值属于偏置电流值区间、消光比属于消光比区间、饱和光功率属于饱和光功率区间、灵敏度属于灵敏度区间,则将待测光模块记为合格产品;获取本次测试的要求测试量,统计本次测试中合格产品的数量记为合格产品数,合格产品数比对要求测试量得到本次测试的实时测试合格率;依据待测光模块的要求测试次数进行重复测试,而后得到待测光模块每次测试时的实时测试合格率;每次测试时的实时测试合格率相加求和取平均值得到待测光模块的平均测试合格率;若平均测试合格率大于等于要求测试合格率,则生成产品合格信号;若平均测试合格率小于要求测试合格率,则生成产品异常信号。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 尚宁光电无锡有限公司 基于数据分析的光模块测试调试系统

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