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【发明授权】成像镜头性能检测系统_智慧星空(上海)工程技术有限公司;深圳智达星空科技(集团)有限公司_202111506121.X 

申请/专利权人:智慧星空(上海)工程技术有限公司;深圳智达星空科技(集团)有限公司

申请日:2021-12-10

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN114323577B

主分类号:G01M11/02

分类号:G01M11/02

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.02#授权;2022.04.29#实质审查的生效;2022.04.12#公开

摘要:本发明的成像镜头性能检测系统,属于光学检测的技术领域,解决现有的测试装置没有考虑照明背景光的影响,照明均匀性或者照明与标记的对准偏差势必会引入信噪比的不一致性,致使测试精度较低的技术问题。其包括照明探测组件、测试标记版、待测成像镜头组件、成像探测组件,所述测试标记版上设置有可透光的测试标记,其中:所述照明探测组件能够生成点光源以照亮所述测试标记;所述待测成像镜头组件能够与所述测试标记标准对照,且能够对所述点光源照亮后所述测试标记进行成像;所述成像探测组件对所述测试标记所的成像进行探测,以测量标准对照后相对位置的偏差,提高检测的准确性。

主权项:1.一种成像镜头性能检测系统,其特征在于,包括照明探测组件1、测试标记版2、待测成像镜头3组件、成像探测组件4、辅助移动组件5,所述测试标记版2上设置有可透光的测试标记201,其中:所述照明探测组件1能够生成点光源以照亮所述测试标记201;多个所述测试标记201形成的区域内设置对准标记202,所述对准标记202反光,且其尺寸小于所述点光源所形成的会聚光斑110,所述对准标记202的周围区域透光,透光区域大于会聚光斑110;所述待测成像镜头3组件能够与所述测试标记201标准对照,且能够对所述点光源照亮后所述测试标记201进行成像;辅助移动组件5用于万向调整待测成像镜头3组件,对所述标准对照后相对位置的偏差进行调校;所述待测成像镜头3组件包括待测成像镜头3和参考标记版6,所述参考标记版6上设置有可反光的参考对准标记602,其中待测成像镜头3的像面设置有参考标记601,参考标记601与测试标记版2上的测试标记201一一对应,起到标准对照作用;所述成像探测组件4对所述测试标记201所的成像进行探测,以测量标准对照后相对位置的偏差。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 智慧星空(上海)工程技术有限公司;深圳智达星空科技(集团)有限公司 成像镜头性能检测系统

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