申请/专利权人：深圳市晶存科技有限公司

申请日：2023-06-14

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN116483641B

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2023.08.11#实质审查的生效;2023.07.25#公开

摘要：本申请公开了硬盘异常掉电测试方法、系统及介质，方法包括：选取待测硬盘中的至少一部分地址进行屏蔽以形成第一屏蔽区，并将待测硬盘剩余的地址作为第一测试区；向待测硬盘发送测试指令，并对待测硬盘进行掉电测试；在待测硬盘通过掉电测试后，调整第一屏蔽区以及第一测试区的地址；向调整后的待测硬盘发送测试指令，并重新对待测硬盘进行掉电测试。根据本申请的技术方案，能够在掉电测试过程中指定一部分地址进行测试，加快测试效率。

主权项：1.一种硬盘异常掉电测试方法，其特征在于，所述方法包括：选取待测硬盘中的至少一部分地址进行屏蔽以形成第一屏蔽区，并将所述待测硬盘剩余的地址作为第一测试区；向所述待测硬盘发送测试指令，并对所述待测硬盘进行掉电测试；在所述待测硬盘通过掉电测试后，调整所述第一屏蔽区以及所述第一测试区的地址；向调整后的所述待测硬盘发送所述测试指令，并重新对所述待测硬盘进行掉电测试；在重新对所述待测硬盘进行掉电测试后，对所述待测硬盘进行格式化操作；基于预设的屏蔽参数对所述待测硬盘的地址进行屏蔽以形成第三屏蔽区和第三测试区；向所述待测硬盘发送所述测试指令，并对所述待测硬盘进行掉电测试，直至所述待测硬盘的参数满足预设的硬盘参数，其中，所述硬盘参数包括电源管理参数以及数据保护参数，所述电源管理参数用于表征所述待测硬盘在掉电情况下的电源管理策略，所述数据保护参数用于表征所述待测硬盘在掉电情况下的数据保护策略；在确定所述待测硬盘未通过掉电测试的情况下，确定错误地址；根据所述错误地址确定所述待测硬盘中的错误数据；对所述错误数据进行标注，生成错误报告；其中，所述调整所述第一屏蔽区以及所述第一测试区的地址，包括：根据所述第一测试区的地址对所述第一测试区进行屏蔽以形成第二屏蔽区，并解除所述第一屏蔽区的地址的屏蔽以形成第二测试区；或者，基于预设的解除参数解除所述第一屏蔽区的地址的屏蔽以将解除屏蔽后的地址以及所述第一测试区作为第二测试区，并将所述第一屏蔽区剩余的地址作为第二屏蔽区。

全文数据：

权利要求：

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