申请/专利权人：深圳市晶存科技有限公司

申请日：2023-04-03

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN116577551B

主分类号：G01R21/06

分类号：G01R21/06

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2023.08.29#实质审查的生效;2023.08.11#公开

摘要：本申请实施例提供了一种SSD功耗测试方法、系统及电子设备，属于SSD测试领域。方法包括：响应于SSD静态功耗测试操作，在第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，静态功耗界面用于显示静态功耗测试值，静态功耗测试值用于表征SSD处于未工作状态时的功耗；响应于SSD动态功耗测试操作，在第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，动态功耗界面用于显示动态功耗测试值，动态功耗测试值用于表征SSD处于工作状态时的功耗；响应于SSD功耗测试完成操作，在第二显示屏幕上显示功耗测试结果。本申请通过软硬件结合对SSD进行功耗测试，能够在提高SSD功耗测试效率的同时，使得SSD功耗测试结果可视化，从而使测试人员更直观地了解SSD功耗测试情况。

主权项：1.一种SSD功耗测试方法，应用在SSD功耗测试系统中，其特征在于，所述SSD功耗测试系统设置有测试板和终端，所述测试板上设置有第一显示屏幕，所述终端设置有第二显示屏幕，所述终端与所述测试板通信连接；所述方法包括：响应于SSD静态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，所述静态功耗界面用于显示静态功耗测试值，所述静态功耗测试值用于表征所述SSD处于未工作状态时的功耗；响应于SSD动态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，所述动态功耗界面用于显示动态功耗测试值，所述动态功耗测试值用于表征所述SSD处于工作状态时的功耗；响应于SSD功耗测试完成操作，在所述第二显示屏幕上显示功耗测试结果；其中，所述功耗测试结果由所述终端根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值计算后得到，所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值是所述终端从所述测试板接收得到的；所述响应于SSD静态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，包括：响应于SSD静态功耗测试操作，获取所述SSD处于未工作状态时的电流值和电压值，并根据所述电流值和所述电压值的乘积得到静态功耗，将所述电流值、所述电压值和所述静态功耗作为静态功耗测试值；在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，所述静态功耗界面用于显示所述静态功耗测试值；所述响应于SSD动态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，包括：响应于SSD动态功耗测试操作，获取所述SSD处于工作状态时的最大电流值和最大电压值，并根据所述最大电流值和所述最大电压值的乘积得到动态功耗，将所述最大电流值、所述最大电压值和所述动态功耗作为动态功耗测试值；在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，所述动态功耗界面用于显示所述动态功耗测试值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市晶存科技有限公司 SSD功耗测试方法、系统及电子设备

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