申请/专利权人：京东方科技集团股份有限公司

申请日：2020-02-27

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN113646801B

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/62;G06T7/90;G01N21/88

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2021.11.30#实质审查的生效;2021.11.12#公开

摘要：提供了缺陷图像的缺陷检测方法、装置和计算机可读介质，包括：获取基板图作为待检测缺陷图像；利用缺陷检测算法集中的每种缺陷检测算法分别对所述待检测缺陷图像进行缺陷检测并生成对应的响应，得到缺陷检测响应集，其中所述缺陷检测算法集包括至少两种缺陷检测算法；以及基于所述缺陷检测响应集以及多种候选缺陷类别的优先级来在多种候选缺陷类别中确定所述待检测缺陷图像的缺陷类别。

主权项：1.一种缺陷图像的缺陷检测方法，包括：获取基板图作为待检测缺陷图像；利用缺陷检测算法集中的每种缺陷检测算法分别对所述待检测缺陷图像进行缺陷检测并生成对应的响应，得到缺陷检测响应集，其中所述缺陷检测算法集包括至少两种缺陷检测算法；以及基于所述缺陷检测响应集以及多种候选缺陷类别的优先级来在多种候选缺陷类别中确定所述待检测缺陷图像的缺陷类别，其中，所述缺陷检测算法集中的每种缺陷检测算法用于检测一种主特征，所述主特征是能够区分具有不同表现形式的缺陷的缺陷特征，且至少两种候选缺陷类别缺陷具有相同主特征，其中，所述缺陷检测响应集中的每个响应为“有响应”和“无响应”中的一种，每个响应分别指示对应的缺陷检测算法在对待检测缺陷图像的缺陷进行检测时是否检测到缺陷中存在该缺陷检测算法对应的主特征。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 京东方科技集团股份有限公司 缺陷图像的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质

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