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【发明授权】一种针对薄层刻画的方法及系统_中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院_202010826157.5 

申请/专利权人:中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院

申请日:2020-08-17

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN114076980B

主分类号:G01V1/30

分类号:G01V1/30;G01V1/36

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.02#授权;2022.03.11#实质审查的生效;2022.02.22#公开

摘要:本发明提供一种针对薄层刻画的方法及系统,其中,该方法包括获取研究区分角度叠加数据体,并通过叠前反演获取研究区的背景纵横波速度比值。获取用于表征零偏移距数据与实测地震数据之间关系的目标函数,其中,所述移距数据为纵波阻抗反射率褶积子波结果。利用获取的目标函数,对分角度叠加数据体进行反演处理,获得研究区的真实零偏移距地震反射数据。获取基于反演得到的真实零偏移距反射数据的基础上,获取零偏移距反射数据的奇偶分量权系数,在此基础上获取提高分辨率后的零偏移距反射数据。利用分步方法,获取零偏移距信息,再在零偏移距信息的基础上进行奇偶分量分解,提高反射数据纵向分辨率,整个过程相对多角度叠加数据直接反演更加稳定。

主权项:1.一种针对薄层刻画的方法,其特征在于,包括如下步骤:S100、获取研究区分角度叠加数据体,并通过叠前反演获取研究区的背景纵横波速度比值;S200、获取用于表征零偏移距数据与实测地震数据之间关系的目标函数,其中,所述零偏移距数据为纵波阻抗反射率褶积子波结果;所述目标函数是根据纵波阻抗反射率以及近似公式的系数矩阵进行代数计算获得,其中,所述纵波阻抗反射率为界面上下层阻抗差与界面上下层阻抗和之间的比值,所述近似公式的系数矩阵为入射角度和纵横波速度比值;S300、利用获取的目标函数,对所述分角度叠加数据体进行反演处理,获得研究区的真实零偏移距地震反射数据;S400、获取基于步骤S300中反演得到的真实零偏移距反射数据的基础上,进行奇偶分量权系数的目标函数构建,获取零偏移距反射数据的奇偶分量权系数,在此基础上获取提高分辨率后的零偏移距反射数据。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 一种针对薄层刻画的方法及系统

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