申请/专利权人：哈尔滨工业大学

申请日：2024-01-25

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849918A

主分类号：G02B3/00

分类号：G02B3/00;G02B1/00;G02B21/36;G02B27/00;G02B7/02;G02B27/28;G06T7/13;G06T7/00;G06F17/13

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明提供了一阶二维微分运算的超构透镜边缘检测成像方法和系统，包括：步骤1：设计并加工具有一阶二维微分运算函数特性的超构透镜；步骤2：构建以超构透镜为核心的图像边缘检测模型，基于图像边缘检测模型对待测图像进行成像，得到边缘检测图像；步骤3：基于边缘检测图像获取待测图像的边缘轮廓，完成待测图像的边缘检测成像。本发明使用超构透镜产生一阶二维微分运算函数调制，不仅避免了零级衍射光斑的影响，提高了能量利用率和成像效率，而且提高了系统的集成化和轻量化。将一阶二维微分运算函数的特点与超构透镜的优势相结合，在能够进行高精度边缘检测的同时，降低了系统的复杂程度，使系统更易于集成。

主权项：1.一阶二维微分运算的超构透镜边缘检测成像方法，其特征在于，所述一阶二维微分运算的超构透镜边缘检测成像方法的步骤包括：步骤1：设计并加工具有一阶二维微分运算函数特性的超构透镜；步骤2：构建以所述超构透镜为核心的图像边缘检测模型，基于所述图像边缘检测模型对待测图像进行成像，得到边缘检测图像；步骤3：基于所述边缘检测图像获取待测图像的边缘轮廓信息，完成待测图像的边缘检测成像。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 哈尔滨工业大学 一阶二维微分运算的超构透镜边缘检测成像方法和系统

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