申请/专利权人：台山核电合营有限公司

申请日：2024-02-02

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849460A

主分类号：G01R27/02

分类号：G01R27/02;G01R1/04;G01R31/01

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明涉及一种核电厂配电盘测试装置，其包括低电阻测试单元、绝缘电阻测试单元、主控单元和多个测试控制单元；每个所述测试控制单元包括第一开关单元、第二开关单元和第三开关单元；所述主控单元通过控制低电阻测试单元、绝缘电阻测试单元、主控单元和多个测试控制单元的工作，以自动测试待测配电盘主回路的接触电阻和绝缘电阻，不仅能节省接线工序，还具有测试效率及准度高的优点。

主权项：1.一种核电厂配电盘测试装置，其特征在于，包括低电阻测试单元1、绝缘电阻测试单元2、主控单元3和多个测试控制单元4；每个所述测试控制单元4包括第一开关单元41、第二开关单元42和第三开关单元43；所述第一开关单元41的第一端连接所述低电阻测试单元1的第一采样端，所述第一开关单元41的第二端用于连接待测配电盘的主回路第一端、且经所述第二开关单元42连接至所述第三开关单元43的第一端，所述第三开关单元43的第一端用于连接所述待测配电盘的主回路第二端，所述第三开关单元43的第二端连接所述低电阻测试单元1的第二采样端和所述绝缘电阻测试单元2的采样端，所述第一开关单元41、第二开关单元42和第三开关单元43的控制端分别连接所述主控单元3；所述主控单元3，与所述低电阻测试单元1和所述绝缘电阻测试单元2连接，用于连接所述待测配电盘，并在内阻测试模式下，控制所述待测配电盘的主回路断开，控制所述第一开关单元41、第二开关单元42和第三开关单元43导通，以通过所述低电阻测试单元1采集所述低电阻测试单元1在测量接触电阻时仪器与线路的测试内阻；在接触电阻测试模式下，控制所述待测配电盘的主回路闭合，控制所述第一开关单元41和所述第三开关单元43导通以及控制所述第二开关单元42断开，以通过所述低电阻测试单元1采集初始接触电阻，进根据所述初始接触电阻和所述测试内阻计算出所述待测配电盘的主回路的接触电阻；在绝缘电阻测试模式下，控制所述待测配电盘的主回路闭合，控制所述第一开关单元41和所述第三开关单元43导通以及控制所述第二开关单元42断开，以通过所述绝缘电阻测试单元2采集所述待测配电盘的主回路的绝缘电阻。

全文数据：

权利要求：

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