申请/专利权人：鼎道智芯(上海)半导体有限公司

申请日：2023-12-15

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117852457A

主分类号：G06F30/3308

分类号：G06F30/3308;G06F11/26

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本申请实施例提供了一种验证方法及验证平台、预设激励平台、存储介质，该方法包括：向待验证芯片发送启动指令，使得待验证芯片从预设激励平台获取随机参数，并根据随机参数确定待验证场景和待执行用例，随机参数由从预设激励平台的预设验证用例库和预设验证场景模型库中随机挑选的目标用例信息和目标场景参数生成；驱动待验证芯片执行待验证场景、以及在执行待验证场景的过程中执行待执行用例以对待验证芯片进行验证。

主权项：1.一种验证方法，应用于验证平台；所述方法包括：向待验证芯片发送启动指令，使得所述待验证芯片从预设激励平台获取随机参数，并根据所述随机参数确定待验证场景和待执行用例，所述随机参数由从所述预设激励平台的预设验证用例库和预设验证场景模型库中随机挑选的目标用例信息和目标场景参数生成；驱动所述待验证芯片执行所述待验证场景、以及在执行所述待验证场景的过程中执行所述待执行用例以对所述待验证芯片进行验证。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 鼎道智芯(上海)半导体有限公司 一种验证方法及验证平台、预设激励平台、存储介质

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