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【发明公布】激励产生方法、设备、存储介质及激励产生器_上海天数算力电子科技有限公司_202311717568.0 

申请/专利权人:上海天数算力电子科技有限公司

申请日:2023-12-13

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN117891719A

主分类号:G06F11/36

分类号:G06F11/36

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.04.16#公开

摘要:本申请提供一种激励产生方法、设备、存储介质及激励产生器,其中,所述方法包括:读取测试激励描述文件,依据所述测试激励描述文件生成多个约束实例和多个序列实例,所述测试激励描述文件中包括序列数组和约束数组,所述序列数组用于记录测试用例中每一序列的序列信息,所述约束数组用于记录测试用例中每一序列的约束信息;依据所述多个序列实例和所述多个约束实例生成传输包队列,将测试用例中的每一序列及每一序列的约束均拆分出来独立的进行保存,提高了维护性和可靠性,提高了开发测试用例的效率,进而提升了整体验证效率。

主权项:1.一种激励产生方法,其特征在于,所述方法包括:读取测试激励描述文件,依据所述测试激励描述文件生成多个约束实例和多个序列实例,所述测试激励描述文件中包括序列数组和约束数组,所述序列数组用于记录测试用例中每一序列的序列信息,所述约束数组用于记录测试用例中每一序列的约束信息;依据所述多个序列实例和所述多个约束实例生成传输包队列。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海天数算力电子科技有限公司 激励产生方法、设备、存储介质及激励产生器

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