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【发明公布】一种光模块的三温误码测试装置_苏州联讯仪器股份有限公司_202410043651.2 

申请/专利权人:苏州联讯仪器股份有限公司

申请日:2024-01-11

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN117856894A

主分类号:H04B10/079

分类号:H04B10/079;G01M11/00;G01M11/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要:本发明提供了一种光模块的三温误码测试装置,属于光模块测试技术领域。该三温误码测试装置包括:测试箱体,其限定有至少一个插槽;误码测试单元,位于测试箱体内;至少一个抽屉,用于安装光模块,抽屉设置成从插槽插入,直至光模块与误码测试单元连接,从而使得误码测试单元对光模块进行测试;第一温控单元,位于测试箱体内,用于对光模块进行温度控制;调节机构,位于测试箱体内,且与第一温控单元连接,用于带动第一温控单元做升降运动,以调节第一温控单元的高度,从而使得第一温控单元与光模块接触或分离。本发明解决了现有技术中,光模块在插入或拔出DUT板的插座时会被测试模块外表面划伤,造成外观不良的问题。

主权项:1.一种光模块的三温误码测试装置,其特征在于,包括:测试箱体,其限定有至少一个插槽;误码测试单元,位于所述测试箱体内;至少一个抽屉,用于安装光模块,所述抽屉设置成从所述插槽插入,直至所述光模块与所述误码测试单元连接,从而使得所述误码测试单元对所述光模块进行测试;第一温控单元,位于所述测试箱体内,用于对所述光模块进行温度控制;调节机构,位于所述测试箱体内,且与所述第一温控单元连接,用于带动所述第一温控单元做升降运动,以调节所述第一温控单元的高度,从而使得所述第一温控单元与所述光模块接触或分离。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州联讯仪器股份有限公司 一种光模块的三温误码测试装置

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