申请/专利权人：哈尔滨工业大学

申请日：2024-01-25

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849919A

主分类号：G02B3/00

分类号：G02B3/00;G02B1/00;G02B21/36;G02B27/00;G02B7/02;G02B27/28;G06T7/13;G06T7/00;G06F17/13

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：基于二阶二维微分运算函数超构透镜边缘检测成像方法，它涉及一种超构透镜边缘检测成像方法。本发明为了解决空间光调制器成像质量差、不利于集成且成本较高的问题。本发明的步骤包括：步骤1、通过仿真手段设计并加工具有二阶二维微分运算函数特性的超构透镜；步骤2、搭建以超构透镜为核心进行二阶二维微分运算函数调制的光学系统，通过超构透镜对待测输入图像成像，获得边缘检测图像；步骤3、通过边缘检测图像中的显影，确定输入图像的边缘轮廓，实现边缘检测效果。本发明属于光学显微成像与光学操控技术领域。

主权项：1.基于二阶二维微分运算函数超构透镜边缘检测成像方法，其特征在于：所述基于二阶二维微分运算函数超构透镜边缘检测成像方法的步骤包括：步骤1、通过仿真手段设计并加工具有二阶二维微分运算函数特性的超构透镜；步骤2、搭建以超构透镜为核心进行二阶二维微分运算函数调制的光学系统，通过超构透镜对待测输入图像成像，获得边缘检测图像；步骤3、通过边缘检测图像中的显影，确定输入图像的边缘轮廓，实现边缘检测效果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 哈尔滨工业大学 基于二阶二维微分运算函数超构透镜边缘检测成像方法

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