申请/专利权人：得一微电子股份有限公司

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117850690A

主分类号：G06F3/06

分类号：G06F3/06

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本申请公开了一种RRT参数的更新方法、设备及可读存储介质，属于数据处理技术领域。本申请通过监测到读取性能指标超过预设阈值，基于当前配置的RRT参数读取用户数据；获取与所述当前配置的RRT参数关联的预训练的出错预测模型，所述出错预测模型用于预测最优RRT参数；输入所述用户数据至所述出错预测模型，其中，所述出错预测模型基于所述用户数据进行再学习，并输出目标RRT参数；获取所述目标RRT参数，并根据所述目标RRT参数更新所述存储装置的配置。能够在存储设备的读取性能下降到阈值时，根据实际读取到的用户数据，实时更新能够实现最佳的读取性能的RRT参数，以提高存储设备的寿命。

主权项：1.一种RRT参数的更新方法，其特征在于，所述RRT参数的更新方法包括以下步骤：监测到读取性能指标超过预设阈值，基于当前配置的RRT参数读取用户数据；获取与所述当前配置的RRT参数关联的预训练的出错预测模型，所述出错预测模型用于预测最优RRT参数；输入所述用户数据至所述出错预测模型，其中，所述出错预测模型基于所述用户数据进行再学习，并输出目标RRT参数；获取所述目标RRT参数，并根据所述目标RRT参数更新所述存储装置的配置。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 得一微电子股份有限公司 RRT参数的更新方法、设备及可读存储介质

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