申请/专利权人：西安电子科技大学

申请日：2024-01-10

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117848522A

主分类号：G01J5/80

分类号：G01J5/80

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明公开了一种基于数据域与亮温域结合的微波辐射计射频干扰抑制方法，主要解决现有技术在原始可见度数据域抑制时因出现异常亮温点而导致成像性能恶化的问题。其实现方案是：通过复相关获取可见度数据，并根据选取的优化模型求取优化权向量；将可见度数据与优化权向量加权求和，得到一次抑制后的亮温估计图像；在亮温估计图像中寻找峰值点，并通过图像阈值判断其是否为亮温异常点，如果是，则对该点的亮温进行抑制，直到低于亮温异常点阈值，更新亮温估计图像；重复寻找图像峰值点，直到整个亮温估计图像低于图像阈值，完成对微波辐射计射频干扰的抑制。本发明清除了零陷区域附近异常亮温点，提高了成像质量，可用于综合孔径被动微波辐射测量。

主权项：1.一种基于数据域与亮温域结合的微波辐射计射频干扰抑制方法，其特征在于，包括如下：1通过两两相关的稀疏阵列天线计算场景的空间频率域信息，并将计算结果作为可见度数据V；2根据应用需求选取优化模型，并借助CVX二次规划数学软件包求解该优化模型，得到反演视场对应的优化权向量ωbest；3将优化权向量与可见度数据加权求和，得到反演视场的亮温估计图像；4寻找亮温估计图像的峰值点ξn,ηn，记录其亮温值为Tn，并根据反演视场的亮温估计图像设置阈值，将超过阈值的峰值点作为亮温异常点，小于阈值的峰值点作为亮温正常点，其中n代表第n个射频干扰点；5计算亮温异常点周围N个正常点的亮温均值Taverage、阵列因子AF和初始的步长因子γ；6根据亮温均值、阵列因子和步长因子对亮温异常点的亮温进行抑制，得到更新的异常点亮温TB和步长因子γB；7设置亮温异常点阈值为1+r，判断当前异常点的亮温是否需要继续抑制：如果TBTaverage＞1+r，返回步骤6，其中r为自定义常数；否则，更新亮温估计图像，返回步骤4；8重复执行步骤4～步骤7，直到所有的异常点亮温都低于亮温估计图像的阈值，结束抑制。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安电子科技大学 基于数据域与亮温域结合的微波辐射计射频干扰抑制方法

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