申请/专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所;北京大学;河北博威集成电路有限公司

申请日：2023-12-07

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890695A

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00;G01R1/073;G01R1/20

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.16#公开

摘要：本发明提供一种微波射频芯片及微波射频芯片的测试系统，微波射频芯片通过将电阻组件串联在待测微波射频芯片的栅极，将电容组件并联在待测微波射频芯片的栅极，本发明能够使得电阻组件和电容组件构成的稳定匹配装置可以过滤栅极输入信号中可能存在的纹波电压和交流信号，同时可以有效过滤外部环境各种干扰源引入的自激信号。防止芯片高压测试时出现自激甚至烧毁现象。

主权项：1.一种微波射频芯片，其特征在于，包括：待测微波射频芯片、电阻组件和电容组件；所述电阻组件串联在所述待测微波射频芯片的栅极；所述电容组件并联在所述待测微波射频芯片的栅极；所述待测微波射频芯片的漏极连接预设电压，所述待测微波射频芯片的源极接地。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国电子科技集团公司第十三研究所;北京大学;河北博威集成电路有限公司 微波射频芯片及微波射频芯片的测试系统

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