申请/专利权人：梅特勒-托莱多有限公司

申请日：2023-10-07

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849100A

主分类号：G01N25/20

分类号：G01N25/20

优先权：["20221004 EP 22199672.1"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.09#公开

摘要：一种差示扫描量热仪，包括温控热源和传感器装置9。传感器装置9包括样品侧和参考侧盘支撑区域4r、样品侧和参考侧测量区域、可操作以输出表示流过样品侧和参考侧测量区域5r的热量之间的差的差分热流信号U的一个或多个测量区域传感器以及样品侧和参考侧局部加热器装置3r。样品盘和参考盘布置在相应的样品和参考侧盘支撑区域上。包围盘的体积区域填充有测量气体。确定差示扫描量热仪的第二校准因子CE的方法包括创建期望温度的第一稳定状态工况的步骤。一旦达到第一稳定状态，通过使用相应的局部加热器装置将加热功率施加到盘支撑区域中的一个S，并且基于差分热流信号U和差分加热功率的比值来确定第二校准因子。

主权项：1.一种确定差示扫描量热仪的第二校准因子CE的方法，其中，所述差示扫描量热仪包括：a.温控热源，优选为炉1，和b.传感器装置9，其中，所述传感器装置9包括i.适于在其上分别接收与其导热接触的样品盘2s和参考盘2r的底部区域的样品侧盘支撑区域和参考侧盘支撑区域4r，ii.分别包围所述样品侧盘支撑区域和所述参考侧盘支撑区域4r的样品侧测量区域和参考侧测量区域，以及-可操作以输出表示流过样品侧测量区域和参考侧测量区域5r的热量之间的差的差分热流信号U的样品侧和参考侧测量区域传感器，和或-可操作以输出表示流过所述样品侧测量区域的热量的样品侧热流信号US的样品侧测量区域传感器以及可操作以输出表示流过所述参考侧测量区域的热量的参考侧热流信号UR的参考侧测量区域传感器，iii.适于将加热功率分别施加到所述样品侧盘支撑区域和所述参考侧盘支撑区域4r的样品侧局部加热器装置和参考侧局部加热器装置3r，以及c.其中，期望盘类型的样品盘布置在所述样品侧盘支撑区域上，并且相同的期望盘类型的参考盘布置在所述参考侧盘支撑区域上，包围样品和所述参考盘的体积区域由期望的测量气体填充，其中，所述方法包括以下步骤：a.通过使用所述热源创建期望温度的第一稳定状态工况，b.一旦达到所述第一稳定状态，通过使用相应的局部加热器装置将加热功率施加到所述样品侧盘支撑区域S或所述参考侧盘支撑区域R，使得达到第二稳定状态，c.基于以下项的比值确定所述第二校准因子：i.直接测量的或者被确定为所述样品侧热流信号与所述参考侧热流信号之间的差U＝US-UR的差分热流信号U，以及ii.在所述第二稳定状态期间施加到所述样品侧的加热功率与施加到所述参考侧的加热功率之间的差的差分加热功率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 梅特勒-托莱多有限公司 用于差示扫描量热仪的校准方法

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