申请/专利权人：原子高科股份有限公司

申请日：2023-11-10

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117233827B

主分类号：G01T1/36

分类号：G01T1/36;G01T1/16

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2024.01.02#实质审查的生效;2023.12.15#公开

摘要：本发明涉及核物理测量技术领域，涉及一种低能光子源的源强测量装置及方法。低能光子源的源强测量装置包括筒体、定位组件、光子准直组件、探测器组件和控制组件。定位组件设置于筒体的第一端，筒体内部设有屏蔽腔体，光子准直组件设置于筒体的第一端，光子准直组件设有光子准直通道，光子准直通道与屏蔽腔体连通。探测器组件设置于屏蔽腔体，探测器组件与控制组件连接。本发明提供的低能光子源的源强测量装置能够有效保证低能射线照射至探测器组件的照射范围和照射强度满足探测器组件的有效测量范围，实现对低能光子源的单位面积光子信号有效收集，确保源强测量装置能够满足低能光子源的测量要求。

主权项：1.一种低能光子源的源强测量装置，其特征在于，包括：筒体，内部设有屏蔽腔体；定位组件，设置于所述筒体的第一端，所述定位组件用于固定低能光子源；光子准直组件，设置于所述筒体的第一端，所述光子准直组件设有光子准直通道，所述光子准直通道与所述屏蔽腔体连通，所述光子准直组件用于对所述低能光子源所发射的低能射线进行准直屏蔽；所述光子准直组件包括准直器，所述光子准直通道设置于所述准直器，所述准直器设置有准直透镜，所述准直透镜的透射光路位于所述光子准直通道，且所述准直透镜的透射光路与所述光子准直通道的中心轴线平行；所述光子准直通道的中心轴线与所述屏蔽腔体的中心轴线平行；所述筒体的第一端设有开孔，所述开孔与所述屏蔽腔体连通，所述准直器插于所述开孔；和或，所述光子准直组件还包括准直托板，所述准直托板固定于所述筒体的第一端端部，所述准直器插于所述准直托板；探测器组件，设置于所述屏蔽腔体，所述探测器组件用于接收输入屏蔽腔体的所述低能射线，并对所述低能射线进行光电转换；控制组件，所述探测器组件与所述控制组件连接。

全文数据：

权利要求：

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