申请/专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学

申请日：2023-06-12

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN116973388B

主分类号：G01N23/046

分类号：G01N23/046;G01N23/18;G01B15/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2023.11.17#实质审查的生效;2023.10.31#公开

摘要：本发明公开了一种检测装置及用于电芯检测的检测方法，所述检测装置包括：支撑机构、旋转机构、传送机构以及检测机构。所述旋转机构设置于所述支撑机构，所述旋转机构包括：旋转支架和旋转盘，所述旋转支架设置于所述支撑机构，所述旋转盘可相对于所述旋转支架进行周向转动；所述传送机构穿过所述旋转盘，且所述传送机构适于传送电芯；所述检测机构设置于所述旋转盘，所述检测机构包括：射线源和探测器，所述射线源与所述探测器适于对所述传送机构上的所述电芯进行检测，且所述射线源与所述探测器适于在所述旋转盘上进行周向旋转。由此，检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。

主权项：1.一种检测装置，其特征在于，包括：支撑机构10；旋转机构20，所述旋转机构20设置于所述支撑机构10，所述旋转机构20包括：旋转支架21和旋转盘22，所述旋转支架21设置于所述支撑机构10，所述旋转盘22可相对于所述旋转支架21进行周向转动；传送机构30，所述传送机构30穿过所述旋转盘22，且所述传送机构30适于传送电芯200；检测机构23，所述检测机构23设置于所述旋转盘22，所述检测机构23包括：射线源231和探测器232，所述射线源231与所述探测器232适于对所述传送机构30上的所述电芯200进行检测，且所述射线源231与所述探测器232适于在所述旋转盘22上进行周向旋转；角度传感机构50，所述角度传感机构50与所述旋转机构20信号连接，所述角度传感机构50用于检测所述射线源231或所述探测器232是否到达预设区间，当所述射线源231或所述探测器232到达所述预设区间时控制所述旋转盘22降低转速；所述角度传感机构50包括至少两个角度传感器，两个所述角度传感器沿所述旋转支架21的周向间隔设置，并用于检测所述射线源231或所述探测器232的位置，以在所述射线源231或所述探测器232在旋转至两个所述角度传感器之间时使所述旋转盘22的降低转速，其中所述预设区间为相邻两个所述角度传感器之间的区间。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 同方威视技术股份有限公司;清华大学 检测装置及用于电芯检测的检测方法

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