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【发明授权】一种检测小间距铆钉孔缺陷的可调节探头及方法_南昌航空大学_202310520978.X 

申请/专利权人:南昌航空大学

申请日:2023-05-10

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN116990382B

主分类号:G01N27/90

分类号:G01N27/90;G01N27/9013

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.09#授权;2023.11.21#实质审查的生效;2023.11.03#公开

摘要:本发明公开一种检测小间距铆钉孔缺陷的探头及方法,所述探头包括壳体、激励线圈、第一聚磁磁路、屏蔽层、差动式检测线圈、第二聚磁磁路;激励线圈、第一聚磁磁路、屏蔽层、差动式检测线圈均为空心圆柱体;激励线圈、第一聚磁磁路、屏蔽层嵌套排布;差动式检测线圈、第二聚磁磁路由外往内依次嵌套,两差动式检测线圈水平并列排布,共同置于激励线圈内部。本发明提供的检测小间距铆钉孔缺陷探头结构使其不受铆钉间距的影响并可根据铆钉孔大小调节差动式检测线圈位置,同时大内径激励线圈增强了探头的渗透能力,提高检测信号的信噪比和检测效率。

主权项:1.一种应用于检测小间距铆钉孔缺陷的可调节探头的远场涡流检测方法,其特征在于:所述检测小间距铆钉孔缺陷的可调节探头包括用于产生激励磁场的激励单元、用于拾取检测信号的检测单元以及用于屏蔽直接耦合通道电磁场的屏蔽层,所述激励单元包括激励线圈和第一聚磁磁路,所述检测单元包括差动式检测线圈和第二聚磁磁路,所述屏蔽层包括第一屏蔽件和第二屏蔽件,所述屏蔽层为多层屏蔽结构;所述差动式检测线圈为水平并列排布的两个小直径绕制圆形线圈,所述第二聚磁磁路的结构为圆柱体,所述差动式检测线圈卷绕于第二聚磁磁路上,所述差动式检测线圈与第二聚磁磁路以探头中心为圆心,沿半径方向根据被检铆接件铆钉直径调节移动;所述激励线圈为大直径绕制圆形线圈,所述激励线圈置于探头整体外侧且将第一聚磁磁路、屏蔽层、差动式检测线圈包含在其内部,所述第一聚磁磁路为空心圆柱,所述大直径绕制圆形线圈卷绕于所述第一聚磁磁路上;所述屏蔽层紧贴于所述第一聚磁磁路内部;所述方法包括以下步骤:步骤一:置于被检铆接结构件上的激励线圈通以低频正弦波信号,所述激励线圈与被检铆钉同心放置产生低频磁场:步骤二:调节所述检测单元使所述差动式检测线圈外切于被检铆接件铆钉,沿铆接件铆钉表面以铆钉为圆心旋转检测小间距铆钉孔缺陷的可调节探头,使置于铆钉孔边缘的检测单元在拾取到包含被检铆接件内部缺陷信息的远场涡流信号,并将信号发送到信号调理模块和显示模块进行处理。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南昌航空大学 一种检测小间距铆钉孔缺陷的可调节探头及方法

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