申请/专利权人：陈冲锋

申请日：2023-09-14

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN220751010U

主分类号：G01B5/00

分类号：G01B5/00;G01B5/20

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权

摘要：本实用新型是一种复合式形位公差测量仪，包括装配台体结构以及设在装配台体结构上部的多维度千分表测量结构，所述的装配台体结构包括安装检测台、驱动结构、卡盘连接结构、工件四爪卡盘、控制器结构、定位支脚结构以及控制器，所述的多维度千分表测量结构包括垂直向千分检测机构以及侧向千分检测机构。本实用新型的有益效果：1.实现了形位公差测量过程中的波形图可视化，有利于学生对形位公差知识点的理解。2.采用双表检测结构，可同时采集端面与径向数据并进行计算。3.使用双端面轴承、单圆柱滚珠轴承，使卡盘旋转更稳定。4.检测方便快捷，精度高。5.测量过程自动完成。6.测量数据可保存数据库进行spc统计分析，理论联系实际。

主权项：1.一种复合式形位公差测量仪，其特征在于：包括装配台体结构以及设在装配台体结构上部的检测结构，所述的检测结构包括设在装配台体结构上部的多维度千分表测量结构，所述的装配台体结构包括安装检测台、设在安装检测台下部的驱动结构、连接驱动结构的卡盘连接结构、设在卡盘连接结构上部的工件四爪卡盘、驱动结构连接的控制器结构以及设在安装检测台下端的定位支脚结构，所述的多维度千分表测量结构包括垂直向千分检测机构以及侧向千分检测机构。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 陈冲锋 一种复合式形位公差测量仪

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