申请/专利权人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司

申请日：2023-12-14

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117835765A

主分类号：H10K71/00

分类号：H10K71/00;H10K71/70;H10K59/50

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本发明提供一种OLED显示面板坏点的修复方法以及OLED显示面板，OLED显示面板坏点的修复方法包括：在阵列基板上形成有机发光层；对有机发光层进行检测，识别有机发光层中坏点的坐标位置；在坏点的上方设置遮光层，遮光层的色彩不同于坏点的色彩。应用本发明的技术方案，可以改善相关技术良品率低的技术问题。

主权项：1.一种OLED显示面板坏点的修复方法，其特征在于，所述修复方法包括：提供阵列基板，并在所述阵列基板上形成有机发光层；对所述有机发光层进行检测，识别所述有机发光层中坏点的坐标位置；在所述坏点的上方设置遮光层。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 OLED显示面板坏点的修复方法以及OLED显示面板

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